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X-strata 920 射线测厚仪

在工业生产和质量检测领域,射线镀层测厚仪是一款极具价值的精密设备。

X-strata 920 射线测厚仪产品特性

• 适应性设计,可对各种产品进行可靠分析

• 自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度

• 直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易

• 多准直器设计为每个样品提供高准确性

• 选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)

• 符合行业规范,例如 IPC-4552AISO3497ASTM B568 DIN50987

• 简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果

X-strata 920 射线测厚仪,强大的光学分析单层和多层镀层,包括合金

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