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X荧光测厚仪

X荧光测厚仪

X-Strata920表面镀层测厚仪

是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

功能特性:

  • 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析

  • 可完成至多4层镀层(另加底材)和25个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线

  • 卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素

  • 测厚行业35年知识和经验的积淀

  • 技术数据
  • 应用
  • 附件
  • 货运

元素范围  Ti22 to U92

镀层和元素数量  4 层镀层 + 底材可同时分析至多25种元素

X-ray激发  50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型钨靶X射线管

X-ray探测器  封气(氙气)正比计数器

准直器  单准直器或多准直器(最多6个) ,圆形、正方形和矩形可选


二次滤波器  可配置至多3个滤波器(V、Co和Ni)用于重叠X射线波谱校正


数字信号处理器   4096多通道数字分析器 自动信号处理,带死时间修正及防脉冲累积功能


软件  SmartLink

FP语言:英语、中文(简体和繁体)、法语、德语、西班牙语、日语、韩语、

意大利语、捷克语和俄语 

计算机  CPU:Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz

硬盘: 500Gb,内存:2Gb

DVDRW

操作系统:Microsoft WindowsTM

注:由于计算机系统更新快速,实际配置等同或优于上述规格

电源  85~130 或 215~265 伏特,频率范围47Hz到63Hz

工作环境     10°C (50°F) 至 40°C (104°F),相对湿度98%,无冷凝

可选配置  标准样品台(最大样品高度 33mm / 1.3”)

加深式样品台(最大样品高度 160mm / 6.3”)

XY 程控样品台(样品台移动行程:178mm x 178mm / 7” x 7”)

各样品台Z向移动行程:43mm (1.7”)

均为开槽式样品台

尺寸(宽 x 长 x 高)    标准样品台:407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")

加深式样品台:407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")

XY 程控样品台:610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)

 注:以上尺寸均不包含计算机和显示器

重量    97kg(不包含计算机和显示器)


应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

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